発表資料 https://drive.google.com/file/d/1Y3KxizVDXIPXs8z51N7Al0Lv-Ms1pANE/view?usp=sharing 発表時間17:30 想定質問 p.8でのerase,write,verifyを実施した理由 p.18通信機能を結果によってどのように対策しますか？ p.18FPGAでの損傷は考慮しているか？ p.18なぜガンマ線と中性子それぞれ分けているのか？SFP+のTIDは測っていないのか？ p.18光ファイバーでNIELを測定していない理由は？測定しない理由である損傷プロセスとは？ p.18光ファイバーでNIELを測定しない理由がこれまでの経験からわかるなら、放射線耐性試験自体の目的が失われてしまうのでは？ SFP+は電源をON/OFFでの挙動などは確認したか？ p.13左図の照射インターバルで回復するが、すぐに低い光量に戻っていないか？ 回復したのを除くと一つの曲線になるのではないか？ ページごとのアドバイス p.1名前の強調、日時学会の名前を書く p.2のRun 3の括弧を外す p.3　実験ホール、TGCの名前を書く p.4で学会発表者を参照する p.4　それぞれのものの名称を目立たせる、字下げをやめる p.4 　QSFPIは所持から保持 p.4　SFP+ 8Gigaの言及する p.5　フラッシュは実機で使用するロットのもの合っているか？（あっているので問題ない） p.5　フラッシュメモリのロットは一つですか？（確認推奨） p.5 　PSボード、メモリも1400枚あるから、それらに使用する全ロットを確認したという認識であっているか？ （同じロットで問題ない） p.5　光ファイバー、フラッシュメモリ、SFP+の試験の目的をより詳しく明記する方が良い p.5　各コンポーネントでどのような損傷が予測されるのかについての言及が欲しい p.6　Kintex-7とかく、KC705の括弧がきなのでKintex　FPGAなどの説明を書く p.7 　ザイリンクスからAMDにかえる p.7　BER以降の文章を省くか図などで説明したほうが良い p.7以降の構成はp.12にIBERTの結果があるので、p.12の前に置いたほうが良いのでは？ p.7以降の検証方法、結果の流れがつかめやすいので、構成をうまいこと考えると良い p.7 検証方法ー＞結果の流れが欲しい アドバイス 光ファイバーのNIEL実施しない理由を支持するものをスライドの中で参照できるようにしておく NIELでの電源のON/OFFを明確に示しておくと良い p.18のSFP+のTIDの値をのせておく