7-10 November 2022
Japan timezone
Belle II実験シリコンストリップ検出器のアップグレードに向けた新しい読み出しASICとDSSDセンサーの性能評価
Presented by 子涵 王
on
7 Nov 2022
from
17:20
to
17:40
Session:
Presentations
Description
Belle II実験のシリコンストリップ検出器(SVD)は粒子の崩壊点位置測定を担う検出器として衝突点付近に配置されている。今後ルミノシティの増強に伴う高いビームバックグランドとヒットレート環境で、高い物理測定性能を達成するために、挟ピッチ薄型シリコン検出器(TFP-SVD)がSVDのアップグレード計画の一つとして提案されました。この計画では薄型両面ストリップ検出器(TFP-DSSD)と新しい読み出しASIC(SNAP128)が開発されました。本発表ではSNAP128とTFP-DSSDの性能評価について報告する。